The technique involves measuring capacitance transients at different temperatures. It also includes ideas for independent code for the control of a third-party temperature controller.ĭeep level transient spectroscopy (DLTS) is a powerful and commonly used technique to investigate the concentration and carrier binding energy of defects in semiconductors. This blog post describes how to get started with writing a LabVIEW™ code to control the MFIA Impedance Analyzer for DLTS measurements. Mesures de la susceptibilité en courant alternatif Résonance paramagnétique électronique (RPE) Microscopie optique en champ proche (SNOM) Microscopie à force atomique sans contact (NC-AFM) ![]() Microscopie à sonde locale multifréquence (MF-AFM) ![]() Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy Magnétométrie avec des ensembles de centres NV Informatique quantique avec qubits de spin semi-conducteurs Informatique quantique avec qubits supraconducteurs ![]() Programmation générateurs de formes d'onde
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